Fast Explicit Diffusion: Schneller Algorithmus zur Mustererkennung
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Saarbrücker Forscher haben einen neuen Algorithmus zur Musterkennung entwickelt, mit dem Kratzer und Rauschen aus Bildern entfernt werden können. Der als Fast Explicit Diffusion (FED) bezeichnete Algorithmus steht als Open-Source-Bibliothek unter der GPL zum Download bereit. (Grafik-Software)
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